荧光量子产率测量系统—— 荧光发光效率检测系统——广州景颐光电科技有限公司是一家生产积分球光功率检测仪的厂家

荧光材料在积分球中产生辐射，因自吸收会影响光谱的分布，需要对积分球进行校准。光纤在测量系统中用来各器件链接，但是光在光纤的传输过程中光谱会发生改变，因此也需要进行校准。此外，探测器在不同波长下的量子效率不同，即对不同波长光的响应不同，也是影响测量结果的因素之一。这些不确定因素的存在，会造成测量光谱的不准确，而荧光量子效率是通过对激发光波段和发射光波段的光谱积分得到光子数进行计算的，所以会进一步造成荧光量子效率计算结果的不准确。因此，建立合适的校准方法是荧光量子效率量值准确的重要保证。

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21世纪初，美国NIST研制了一台高精度的荧光光谱仪器，荧光的测量进入了精密测量的阶段。随着技术的发展，出现了几种较为便捷的量子产率测试方法。这些方法的仪器装置各有不同，测量结果的准确性也不同。加拿大国家计量局采用标准光谱辐射计校正入射光光谱功率分布，结合标准探测器和标准物质进行量子产率测试。该方法精度很高，但装置复杂，无法大规模普及应用。积分球技术的引入，再结合激发光谱和发射光谱的双光谱法进行量子产率测量，这类方法[6-8]的出现有效降低测量装置的复杂性，为量子产率测试仪器的普及提供了一定的理论依据。

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对于600 nm以上的波长范围，通过已知色温数据的标准钨灯光源作为黑体来求得发射光谱校正曲线[12]，如图7所示。校正方法是将标定过色温数据的钨灯放入样品室，调整标准电源达到标准钨灯的标定电流工作模式，使标准钨灯达到已知的色温状态。仪器执行发射波长扫描，扫描波长范围为600～900 nm。此时得到的光谱为W（λ）。这样就可以获得600～900 nm仪器发射光谱综合响应特征系数M（λ600～900），即式中：M（λ600～900）为600～900 nm仪器发射光谱综合响应特征系数；W（λ）为600～900 nm发射波长扫描光谱；H（λ,T）为色温T时的黑体辐射曲线；T为标准钨灯的色温。

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