荧光量子产率检测系统——荧光量子检测系统——广州景颐光电科技有限公司是一家生产积分球光功率检测仪的厂家

IVL（电流-电压-亮度）的测量

除了可以实现对EQE测量外，针对电致发光器件的另一个重要性能电流-电压-亮度（IVL），我们的电致发光量子效率测量系统也可以提供一体化、自动化测量的方案。

电流参数（电流、电流密度等）随电压参数的变化曲线反映了器件的电学性质。亮度随电压参数的变化曲线反映了器件的光学性质。这类电学和光学参数之间的关系统称为IVL（电流-电压-亮度）关系，对于电致发光器件也非常重要。

通常情况下，IVL关系的测量需要多套电学测量系统和光学测量系统分别测量，测量全部的参数非常繁琐。通过软件整合电流源和光谱探测器的功能，我们提供的发光器件测量系统软件也可以测量电流、电流密度、电压、电流效率、功率效率、发射光谱、色度等一系列参数，并且逐一对应，形成关系曲线，将测量操作化繁为简。

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另外我们专门为荧光量子效率测量系统和电致发光量子效率测量系统配备了相关的操作软件，兼容各个主流电脑系统，并且经过几十个版本的更新迭代，软件的操作已经十分成熟，其操作的学习过程也很简单，只需要半个小时就可以上手操作使用使用，完全没有负担，并且软件控制多通道切换器，一键测试完一片芯片上的所有发光点，十分便捷。

荧光指一种光致发光的冷发光现象。常温下，当某种物质经某种波长入射光（通常是紫外线或X射线）照射，吸收光能后进入激发态，并且立即退激发并发出比入射光的波长长的出射光（通常波长在可见光波段）；很多荧光物质一旦停止入射光，发光现象也随之立即消失。具有这种性质的出射光就被称之为荧光。一般光致发光是指任何由电磁辐射引起的发光；而荧光通常是指由紫外引起的，有时也用于其它类型的光致发光。

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测量原理

荧光量子产率测量系统采用法测定方式，是对积分球测量得到的荧光物质的真实荧光光谱直接进行计算的方法。因为样品散射出的光大部分都被积分球收集并进入荧光分光光度计的发射单色器中，所以可以使用光谱中的峰面积数据代替样品散射出的光子数进行计算。与荧光量子效率相关的变量有吸收率、外量子效率和内量子效率，内量子效率即为荧光量子产率的定义。仪器经过光谱校正后，分别测量空白样品和荧光样品的真实发射光谱，如图8和图9所示，计算方法如式 (5) ～ (7)。新研制的荧光量子产率分析软件可自动计算得出样品的量子产率数值，如图10所示。

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