反射率测量仪——广州景颐光电科技有限公司是专门做反射率检测仪的公司
硅片反射率检测仪
硅片又称晶圆片，是由硅锭加工而成的，通过专门的工艺可以在硅片上刻蚀出数以百万计的晶体管，被广泛应用于集成电路的制造。
硅属于半导体材料，其自身的导电性并不是很好。然而，可以通过添加适当的掺杂剂来控制它的电阻率。制造半导体前，必须将硅转换为晶圆片。
加工硅片生成一个硅锭要花一周到一个月的时间，这取决于很多因素，包括大小、质量和终端用户要求，因此需要反射率检测仪来测试其是否达到标准。
景颐光电生产的反射率检测系统采用卤素灯光源或紫外全光谱光源，光源输出均匀稳定，操作简便，使用灵活，还可定制工业在线自动检测方案。
欢迎咨询景颐光电了解更多反射率测量仪
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反射率测量仪基本技术指标
1.测量范围：0-100
2.重复精度：0.3%
3.显示数据与反射光强度成正比
4.仪器的光谱灵敏度近似等于Sc(λ)与y(λ)的乘积
5.环境温度：23℃+/-5℃ ，相对湿度<85%
6.输入电源：220V+/-10% 50Hz
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反射率测量仪的参数及原理
反射率测量仪是为涂料、油墨等化工行业贯彻执行、标准而研制的仪器。
它可用于漆膜遮盖力的测定。该仪器完全符合ISO3906-1980(E)、GB/T13452.3-92、GB9270-88、GB5211.17-88对该仪器的规定要求。
技术参数：
1、测量范围 0~100
2、重复精度 0.3%
3、显示数据与反射光强度成正比
4、仪器的光普灵敏度近似等于Sc与Y的乘积
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