反射率检测仪——广州景颐光电科技有限公司是专门做反射率检测仪的公司
反射率检测仪的优势
1、反射率一体化设备，自带显示电脑，可测量反射率光谱，操作简单快捷，测量光谱数据快速显示在电脑。
2、光源输出稳定,能量强,测量重复性高,数据。
3、本产品坚持自主创新为主，本产品申请有多项技术和软件著作证书。
4、本产品坚持以创新、为本，具有测量结果、、快速、方便、应用范围广等特点,荣获高新技术产品资格证明。
5、可以设置任意波长范围的上限、下限进行质量检测，快速对产品测量结果进行OK、NG判定，自动分拣不合格产品，统计和分析产品的良率情况。
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硅片反射率检测仪
半导体基本的材料是“硅”，它是不导电的，但如果在半导体中掺入不同的杂质，就可以做成P型与N型半导体，再利用P型半导体有个空穴(P型半导体少了一个带负电荷的电子，可视为多了一个正电荷)，与N型半导体多了一个自由电子的电位差来产生电流，所以当太阳光照射时，光能将硅原子中的电子激发出来，而产生电子和空穴的对流，这些电子和空穴均会受到内建电位的影响，分别被N型及P型半导体吸引，而聚集在两端。
此时外部如果用电极连接起来，形成一个回路，这就是太阳电池发电的原理。
简单的说，太阳光电的发电原理，是利用太阳电池吸收400-1100nm波长(针对硅晶)的太阳光，将光能直接转变成电能输出的一种发电方式。
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反射率检测仪主要技术参数：
1、测量范围：0~100
2、重复精度：0.3%
3、显示数据与反射光强度成正比
4、仪器的光普灵敏度近似等于Sc与Y的乘积
5、环境温度：20°±5°；相对湿度<85%
6、输入电源：220V±10% 50Hz
反射率检测仪注意事项：
1、为保证测量精度，测量环境温度应接近25°C。仪器应经常校准，允许偏差为±0.3，若大于0.3需要新校准。
2、为克服硅光电池的光照疲劳现象，在测试的间隙时间内应将探头放在黑色标准板上面。减少插头的拔插次数，以免损坏插头，造成接触不良。
3、白色标准版应远离污染，否则会影响测量精度。如有污渍可用绘图橡皮除净。
4、试验的制备应严格依照相关的标准GB9271-88的规定进行。
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