植物叶绿素光谱分析仪器—广州景颐光电科技有限公司是做植物光谱仪的公司

冠层分析仪的用途

冠层分析仪又叫叶面积指数仪，顾名思义是测定植物冠层结构的仪器。它是根据光线穿过介质减弱的比尔定律，测算植物冠层的太阳直射光透过率、叶面积指数等，采用半理论半经验的公式，通过冠层孔隙率的测定，计算出冠层结构参数。

冠层分析仪可用于农作物、果树、森林内冠层受光状况的测量和分析;可对农田作物群体生长过程进行动态监测;也适用于农业、园艺、林业领域有关栽培、育种、植物群体对比与发展的研究与教学。

冠层分析仪广泛应用于农业生产和农业科研，为进行冠层光能资源调查，测量植物冠层中光线的拦截，研究作物的生长发育、产量品质与光能利用间的关系。

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冠层分析仪在果树中的应用

测量时根据果园的大小。分别设置3-5个测量点，在每个测量点再分别用方框取样法和冠层分析法测量叶面积指数。

方框取样法是将方框随机放在树冠上，将方框内的的叶片全部摘下，用叶面积仪测量框内的叶面积，然后根据树冠体积和栽植密度计算叶面积指数。测点的选择与冠层分析仪方法相同。

冠层分析仪是分别对应测量天空5个范围的散射辐射，这5个范围的ZX视天顶角分别为7°、23°、38°、53°和68°，分别与冠层上部和下部测量辐射通透密度，并根据转换模型估算叶面积指数。

在每一个测点的冠层顶部测一次，下部重复测量6-10次，冠层下方的测量在同一水平面上，且在无直接辐射的条件下进行。

为了避免光环境迅速的变化对测量结果的影响，选择无直接辐射的条件下进行，然后用冠层分析仪附带的软件对测量的资料进一步加工以校正估值叶面积指数。

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在无损检测技术中，光谱成像技术被公认为是有潜力和价值的无损检测技术，它集光谱技术与计算机图像技术两者的优点于一体，可获得大量包含连续波长光谱信息的图像块，具有多波段、高分辨率等特点。该技术早期广泛应用于地质明、农业、大气和环境"等领域。近年来，国内外许多学者已将光谱成像技术应用到果蔬品质的检测上。

光谱成像技术在果蔬品质检测中具有很大的发展前景。文中探索了近红外光谱成像技术在小黄瓜水分无损检测中的应用。在900~1700nm波段范围内采集了小黄瓜光谱图像并进行建模分析，选取出优建模方法，以期实现小黄瓜含水量的无损检测，并为光谱成像技术应用于果蔬品质的在线分级分选提供参考。

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