反射率检测仪——广州景颐光电科技有限公司是专门做反射率检测仪的公司
硅片反射率检测仪
21世纪的人类搭上了科技飞速进步的快车，生活中许多微量元素都经过加工制作成半导体等电子元件。
其中硅片的用途在工业生产中占着不可或缺的地位，通常被应用于如计算机、电信和电视，还有的应用于先进的微波传送、激光转换系统、诊断和设备、防御系统和NASA航天飞机等领域。
景颐光电反射率检测仪是一套全波长380nm-1000nm的光谱分析仪，能快速准确地测量硅片的反射率。
适用于评估硅片的遮盖力，或金属化薄膜，阳极氧化铝或陶瓷的简单遮光分选任务。
欢迎咨询景颐光电了解更多反射率检测仪
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硅片反射率检测仪
硅片又称晶圆片，是由硅锭加工而成的，通过专门的工艺可以在硅片上刻蚀出数以百万计的晶体管，被广泛应用于集成电路的制造。
硅属于半导体材料，其自身的导电性并不是很好。然而，可以通过添加适当的掺杂剂来控制它的电阻率。制造半导体前，必须将硅转换为晶圆片。
加工硅片生成一个硅锭要花一周到一个月的时间，这取决于很多因素，包括大小、质量和终端用户要求，因此需要反射率检测仪来测试其是否达到标准。
景颐光电生产的反射率检测系统采用卤素灯光源或紫外全光谱光源，光源输出均匀稳定，操作简便，使用灵活，还可定制工业在线自动检测方案。
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