反光率检测仪——广州景颐光电科技有限公司是专门做反射率检测仪的公司
硅片反射率检测仪
半导体基本的材料是“硅”，它是不导电的，但如果在半导体中掺入不同的杂质，就可以做成P型与N型半导体，再利用P型半导体有个空穴(P型半导体少了一个带负电荷的电子，可视为多了一个正电荷)，与N型半导体多了一个自由电子的电位差来产生电流，所以当太阳光照射时，光能将硅原子中的电子激发出来，而产生电子和空穴的对流，这些电子和空穴均会受到内建电位的影响，分别被N型及P型半导体吸引，而聚集在两端。
此时外部如果用电极连接起来，形成一个回路，这就是太阳电池发电的原理。
简单的说，太阳光电的发电原理，是利用太阳电池吸收400-1100nm波长(针对硅晶)的太阳光，将光能直接转变成电能输出的一种发电方式。
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反射率测量仪基本技术指标
1.测量范围：0-100
2.重复精度：0.3%
3.显示数据与反射光强度成正比
4.仪器的光谱灵敏度近似等于Sc(λ)与y(λ)的乘积
5.环境温度：23℃+/-5℃ ，相对湿度<85%
6.输入电源：220V+/-10% 50Hz
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反射率测量仪的参数及原理
反射率测量仪是为涂料、油墨等化工行业贯彻执行、标准而研制的仪器。
它可用于漆膜遮盖力的测定。该仪器完全符合ISO3906-1980(E)、GB/T13452.3-92、GB9270-88、GB5211.17-88对该仪器的规定要求。
技术参数：
1、测量范围 0~100
2、重复精度 0.3%
3、显示数据与反射光强度成正比
4、仪器的光普灵敏度近似等于Sc与Y的乘积
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